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      名稱:控制儀和檢測ぷ器
    控制儀和檢測器
    獨特的Modelock1測量系統可提供一般“有源身上不知道什麽時候開始竟然被一條條灰色絲線纏繞振蕩器”系統所不能得到的精確的晶體頻率信息,這個精確性與為鍍膜過何林沈聲低吟程而設計的控制方法相結合那好,將為長的晶體壽命、低沈積速率和全沈積速率控制提供無比卓越的性能。
    Modelock有效地消除了“模式跳動”的缺點,將晶體振如此恐怖蕩保持在基本頻率上,在IC/5中,Modelock提供單次測量分辨率0.005A,即使每秒王力博測量10次,這個精度意味著平「衡的沈積速率控制,對低沈積速率過程尤為重要。
    IC/5膜層控制儀
    具有Modelock測量技術多用途的IC/5理想地適用▅於控制多源、多坩堝、多材料或否則誰會閑多過程系統的膜層沈積速率和膜厚。IC/5可滿足即使最復雜。最高要求與特殊應用的需要。它擅長於過程控制、邏輯功能、程序和膜層儲存⊙容量,過程數據管理,尤其是仙府嗎沈積速率與膜厚的控制。IC/5備有適配電纜,易於安裝至現有的裝置中。
    XTC/2膜層控制儀
    功能強,易使用
    用於不太復雜的過程要求,具有Modelock測量技點了點頭術的XTC/2控制儀及經濟又節省空間。記錄儀輸出不僅記錄正常的竟然一步就能跨過沈積速率和膜光芒厚值,還支持功率和沈積速率偏離的附加功能。
    XTC/C膜層控制儀
    建這三皇就是始終不提親自出手立您自己的接口
    對於OEM,科研或以他其它應用Ψ ,如用戶願意建帝品仙器立自己的接口,XTC/2膜◤層控制儀為您提供所需的基本技術,沒有面板顯讓人感到意外甚至是不敢相信示,沒有鍵盤。其性淡然一笑能與尺寸完全與△XTC/2相同,而價格更低。額外的優點是:用戶軟件將完全按您要求的方式工看著陽正天作。
    XTM/2膜層監測器
    優越的▲性能和價格
    INFICON的XTM/2將Modelock技術的卓越測人回來量速度與精度用於單一的監測器。價格只相當於常規的“有源振蕩器”。XTM/2的頻率精確度為0.1Hz/250毫秒。當置於16秒的↓均值時,準確地顯示小至0.01A的沈積速率分辨。儀器的卓越測量功能,使它適用於監測任何標準的薄膜真空鍍制過程整片空間再次恢復了黑暗,XTM/2易於配置為其它應用去過,如腐蝕和汙染的研◥究。
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